M. J. Campuzano Hernández, A. Carrión
Este trabajo propone un nuevo esquema de muestreo doble para el gráfico de control C (DS-C), diseñado para mejorar el rendimiento del gráfico o para reducir el costo de inspección. Además de derivar la expresión matemática requerida para hacer una evaluación exacta del ARL y el ASS, se implementa un algoritmo genético biobjetivo para obtener el diseño óptimo del esquema DS-C. Esta optimización tiene como objetivo minimizar al mismo tiempo la probabilidad de error tipo II (β) y el ASS, garantizando el nivel deseado para la probabilidad de error tipo I (α). Al realizar la comparación del rendimiento entre los diferentes esquemas para el gráfico C: muestreo doble (DS), parámetros fijos (FP), tamaño variable simple (VSS), media móvil ponderada exponencial (EWMA) y sumas acumuladas (CUSUM), se evidenció que con la implementación del esquema DS-C se obtiene una reducción significativa de la ARL fuera de control con un ASS más bajo respecto a FP y un mejor perfil de ARL que VSS, EWMA y CUSUM.
Palabras clave: muestreo doble, gráficos de control por atributos, ARL, algoritmos genéticos, frontera de Pareto.
Programado
FCC-2 Fiabilidad y Control de Calidad
5 de septiembre de 2019 12:00
I2L7. Edificio Georgina Blanes