C. J. Pérez González, A. J. Fernández
Los esquemas de muestreo simple y repetitivo son algunos de los métodos convencionales que permiten evaluar la calidad en lotes de productos. Este trabajo introduce los planes de muestreo truncados repetitivos, los cuales permiten reducir de forma significativa el tamaño de las muestras que hay que extraer de los lotes. En este tipo de esquema, si en la inspección original no se ha podido llegar a una decisión sobre la aceptación o rechazo del lote, el procedimiento de muestreo se puede repetir como máximo un número prefijado de veces. Supondremos que el número de defectos por unidad inspeccionada sigue una distribución de Poisson. Entonces, mediante optimización no lineal entera, se determinan los planes truncados repetitivos con mínimo esfuerzo de inspección y riesgos controlados. El método se ilustra mediante un ejemplo aplicado al proceso de fabricación de láminas de cristal.
Palabras clave: planes de muestreo óptimos, número de defectos, riesgos de productor y consumidor, inspección truncada repetitiva
Programado
FCC-1 Fiabilidad y Control de Calidad
4 de septiembre de 2019 14:45
I3L10. Edificio Georgina Blanes